Microscopie à Force Atomique (AFM)

Présentation

Le LASIR dispose d’un Microscope à Forces Atomiques (NTEGRA, NT-MDT) équipé d’une cellule environnementale pour travailler sous atmosphère contrôlée et à température variable.

Ce dispositif est destiné à l’étude des modifications morphologiques de particules d’aérosol exposées à des conditions simulant un séjour prolongé dans l’atmosphère.

Responsable Technique :  Myriam Moreau (Myriam.Moreau@univ-lille.fr)

    

Équipement et descriptif technique

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AFM NTEGRA PRIMA NT-MDT
  • Balayage par la pointe : scanner 100 x 100 x 10 µm3 asservi en position

Cellule environnementale étanche :
– mesures en environnement gazeux contrôlé : température (entre -5° et + 80°), humidité, gaz réactifs
– mesures en liquides à température variable

  • Balayage par l’échantillon : scanner 100 x 100 x 10 µm3 asservi en position
    scanner 1 x 1 x 1 µm3 non asservi

Cellule ouverte pour mesures en liquide

Modes d’utilisation

Contact AFM / LFM / Semicontact+nanocontact AFM / Phase Imaging / Force Modulation (viscoelasticity) / MFM / EFM / Adhesion Force Imaging / AFM Lithography-Force/AFM Lithography-Voltage / Spreading Resistance Imaging (SRI) / Scanning Capacitance Imaging (SCI) /Scaninig Kelvin probe microscopy (SKM) / Piezo Response Mode (PFM)

Nombreuses extensions possibles :

  • STM (Scanning Tunneling Microscopy)
  • AFAM (Atomic-Force Acoustic Microscopy)
  • TERS (Tip Enhanced Raman Spectroscopy)
  • QCM (Quartz Crystal Microbalance)